| 摘要 |
【課題】分類性能を向上した画像分類装置を提供する。【解決手段】検査・分類装置では、分類対象である欠陥に対して複数の属性項目が定められ、それぞれが教師画像と、当該教師画像に対する複数の属性項目についての教示情報とを含む複数の教師データセット８１が準備される。続いて、複数の属性項目に関する分類をそれぞれ行う複数の分類器３２４が、全ての教師データセット８１を用いた学により構築される。そして、対象画像の分類では、分類制御部３２２が、対象画像に対する複数の属性項目における分類結果を、複数の分類器３２４にそれぞれ取得させ、複数の分類器３２４による分類結果を統合した欠陥クラスが決定される。検査・分類装置では、十分な個数の教師データセット８１を用いて各属性項目に特化した分類器３２４を構築することができ、その結果、分類性能を向上することができる。【選択図】図３ |
