发明名称 半導体装置および半導体装置の製造方法
摘要 半導体装置(10)の半導体層(30)の表面には、電極層(40)が形成されている。電極層(40)は、密着層(41)、導電層(42)、ドーパント層(43)、および拡散補助層(44)を有する。拡散補助層(44)の厚みは、導電層(42)の厚みよりも薄い。密着層(41)と導電層(42)との間には、ドーパント層(43)、および拡散補助層(44)が挟まれており、電極層(40)は、これら密着層(41)、導電層(42)、ドーパント層(43)、および拡散補助層(44)が熱処理(アニール処理)によって合金化された層である。熱処理温度は、例えば約800℃以下の温度である。半導体層(30)は、GaN系のヘテロ接合半導体であり、密着層(41)はTiであり、導電層(42)はAlであり、ドーパント層(43)はSiであり、拡散補助層(44)はAuである。
申请公布号 JPWO2015080107(A1) 申请公布日期 2017.03.16
申请号 JP20150550938 申请日期 2014.11.26
申请人 株式会社村田製作所 发明人 高尾 将和
分类号 H01L21/28;H01L21/338;H01L29/778;H01L29/812 主分类号 H01L21/28
代理机构 代理人
主权项
地址