发明名称 半導体装置
摘要 【課題】縦型トランジスタの耐圧とオン抵抗のトレート゛オフの改善を可能とする半導体装置を提供する。【解決手段】実施形態の半導体装置は、第1の面と第2の面とを有する半導体層と、半導体層内の第1導電型のドリフト領域と、ドリフト領域と第1の面との間の第2導電型のボディ領域と、第1導電型のソース領域と、第1のゲート電極と、第1のゲート電極との間にボディ領域を挟んで設けられた第2のゲート電極と、第1及び第2のゲート絶縁膜と、第2の面と第1のゲート電極との間の第1のフィールドプレート電極と、第2の面と第2のゲート電極との間の第2のフィールドプレート電極と、ドリフト領域内の第1導電型の第1の領域と、第1の領域とボディ領域との間の第1の領域よりも第1導電型不純物の濃度の高い第2の領域と、第2の領域とボディ領域との間に設けられ、第2の領域よりも第1導電型不純物の濃度の低い第3の領域と、を備える。【選択図】図1
申请公布号 JP2017055016(A) 申请公布日期 2017.03.16
申请号 JP20150179161 申请日期 2015.09.11
申请人 株式会社東芝 发明人 小林 研也
分类号 H01L29/78;H01L21/336;H01L29/06 主分类号 H01L29/78
代理机构 代理人
主权项
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