发明名称 半導体装置の製造方法
摘要 【課題】支持基板へ貼り合わされたウェハを裏面側から研削して製造される半導体装置の歩留りを向上させることができる半導体装置の製造方法を提供すること。【解決手段】一つの実施形態によれば、半導体装置の製造方法が提供される。実施形態に係る半導体装置の製造方法は、形成工程と、貼合工程と、薄化工程との3つの工程を含む。形成工程は、表面に半導体素子が設けられたウェハの周縁部を、ウェハの表面側から少なくとも200μm以上の深さまで除去して、ウェハの表面側周縁に切欠部を形成する。貼合工程は、ウェハの表面を支持基板に貼り合わせる。薄化工程は、ウェハを裏面側から研削してウェハを200μm未満の厚さまで薄化する。【選択図】図2
申请公布号 JP2017055089(A) 申请公布日期 2017.03.16
申请号 JP20150180152 申请日期 2015.09.11
申请人 株式会社東芝 发明人 白野 貴士;藤井 美香;東 和幸
分类号 H01L21/304;B23K26/53;B24B7/22;B24B9/00 主分类号 H01L21/304
代理机构 代理人
主权项
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