发明名称 半導体装置
摘要 トレンチゲート型の半導体装置において、電界緩和ウェルによるゲート絶縁膜の電界緩和とオン抵抗増大とのトレードオフ関係を改善する。基板(1)と、基板(1)上に設けられた第1導電型のドリフト層(2a)と、ドリフト層(2a)上に形成された第2導電型のベース領域(4)と、ベース領域(4)内に位置する第1導電型のソース領域(6)と、ベース領域(4)とソース領域(6)とを貫通するトレンチ(7)と、トレンチ(7)と離間して、ベース領域(4)より深い位置に形成された第2導電型の電界緩和ウェル(25)と、トレンチ(7)の内壁に形成されたゲート絶縁膜(9)と、トレンチ(7)内にゲート絶縁膜(9)を介して埋め込まれたゲート電極(10)と、を備え、電界緩和ウェル(25)は、横方向の幅が底部から上部に向かって拡がる形状であることを特徴とする。
申请公布号 JPWO2015072052(A1) 申请公布日期 2017.03.16
申请号 JP20150547604 申请日期 2014.09.02
申请人 三菱電機株式会社 发明人 香川 泰宏;田中 梨菜;福井 裕;三浦 成久;阿部 雄次
分类号 H01L29/78;H01L21/336;H01L29/12 主分类号 H01L29/78
代理机构 代理人
主权项
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