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发明名称
半導体装置の製造方法、および、半導体装置
摘要
本発明は、オン抵抗の低減を図ることができる半導体装置の製造方法を提供する。本発明は、基板(11)上にドリフト層(12)を形成する。また、ドリフト層表面にイオン注入層13を形成する。また、ドリフト層内に余剰炭素領域31を形成する。また、ドリフト層を加熱する。余剰炭素領域を形成する場合、イオン注入層とドリフト層との界面よりも深い領域に余剰炭素領域を形成する。ドリフト層を加熱する場合、イオン注入層の不純物イオンを活性化させて活性化層113を形成し、格子間炭素原子を活性化層側に拡散させる。
申请公布号
JPWO2015072210(A1)
申请公布日期
2017.03.16
申请号
JP20150547672
申请日期
2014.09.02
申请人
三菱電機株式会社
发明人
濱田 憲治;今泉 昌之
分类号
H01L29/861;H01L21/265;H01L21/322;H01L21/329;H01L29/868
主分类号
H01L29/861
代理机构
代理人
主权项
地址
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