发明名称 半導体装置
摘要 【課題】チップ面積の縮小を可能とする半導体装置を提供する。【解決手段】第1の面と第2の面とを有する半導体層10と、第1の面側の半導体層上に設けられたゲート絶縁膜22と、ゲート絶縁膜上に設けられたゲート電極24と、ゲート電極上に設けられた第1の層間絶縁膜30と、第1の層間絶縁膜上に設けられ、n型の第1の領域32aと、第1の領域を囲むp型の第2の領域32bと、第2の領域を囲むn型の第3の領域32eを有する半導体膜32と、半導体膜上に設けられた第2の層間絶縁膜34と、一部が第1の面に接し、一部が第2の層間絶縁膜上に設けられ、半導体層及び第3の領域と電気的に接続され、ゲート電極との間に、半導体膜の一部を挟んで設けられた第1のソース電極パッド36と、第2の層間絶縁膜上に設けられ、ゲート電極及び第1の領域と電気的に接続されたゲート電極パッド38と、を備える。【選択図】図1
申请公布号 JP2017055029(A) 申请公布日期 2017.03.16
申请号 JP20150179330 申请日期 2015.09.11
申请人 株式会社東芝 发明人 山口 和宏;生野 徹
分类号 H01L27/04;H01L21/822;H01L21/8234;H01L27/06;H01L27/088;H01L29/78 主分类号 H01L27/04
代理机构 代理人
主权项
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