发明名称 パターン測定装置、及びコンピュータプログラム
摘要 本発明は、パターンの微細化やずれ等によらず、正確且つ安定してパターンやエッジの判定、或いはエッジの特定に基づく測定を行うパターン測定装置、及びコンピュータプログラムである。本発明では特定の間隔で繰り返し配列されているパターン部位(G1、G2、G3、G4)を、パターン部位の位置に応じて分類し、当該分類されたパターン部位と、パターンのエッジの種類に関する情報、或いはパターンの種類に関する情報との対応付けに基づいて、パターンのエッジの種類の特定、パターンの種類の特定、或いは所定のパターン部位間の寸法測定を実行するパターン測定装置、及び上記処理をコンピュータに実行させるコンピュータプログラムが提供される。
申请公布号 JPWO2015083675(A1) 申请公布日期 2017.03.16
申请号 JP20150551506 申请日期 2014.12.01
申请人 株式会社日立ハイテクノロジーズ 发明人 生井 仁;山崎 智章
分类号 G01B15/04;G01B15/00;H01L21/66 主分类号 G01B15/04
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利