发明名称 半導体装置およびその製造方法ならびに電力変換装置
摘要 【課題】III族窒化物系の半導体装置において、n型半導体層の溝部に対して選択的にp型半導体を充填する。【解決手段】半導体装置の製造方法は、III族窒化物から主に成るとともに結晶面のc面が表面に現れるn型半導体層を、エピタキシャル成長によって形成する工程と;n型半導体層を表面からエッチングすることによって、結晶面のa面またはm面が側面に現れる溝部を、形成する工程と;2000以上3000以下のV/III比でIII族原料とV族原料とを含有する原料ガスを用いたエピタキシャル成長によって、III族窒化物から主に成るp型半導体を前記溝部に充填する工程とを備える。【選択図】図2
申请公布号 JP2017054998(A) 申请公布日期 2017.03.16
申请号 JP20150178989 申请日期 2015.09.11
申请人 豊田合成株式会社 发明人 藤井 隆弘;小嵜 正芳;丹羽 隆樹
分类号 H01L21/329;C23C16/34;C30B25/02;C30B29/38;H01L21/205;H01L21/28;H01L29/47;H01L29/872 主分类号 H01L21/329
代理机构 代理人
主权项
地址