发明名称 半導体装置および半導体装置の製造方法
摘要 【課題】半導体チップの積層構造における接着強度を向上可能とする半導体装置および半導体装置の製造方法を提供すること。【解決手段】実施形態によれば、半導体装置は、構造体、第2の半導体チップであるコントローラチップ12、および第3の半導体チップであるDRAMチップ13を備える。構造体は、第1の半導体チップであるNANDチップ11を含む。構造体は、基板10の第1の領域に設けられている。第2の半導体チップは、基板10の第2の領域に設けられている。第3の半導体チップは、構造体の上面と第2の半導体チップの上面とに架け渡らせて配置されている。【選択図】図1
申请公布号 JP2017055052(A) 申请公布日期 2017.03.16
申请号 JP20150179645 申请日期 2015.09.11
申请人 株式会社東芝 发明人 松浦 永悟
分类号 H01L25/065;H01L21/60;H01L25/07;H01L25/18 主分类号 H01L25/065
代理机构 代理人
主权项
地址