介质材料测量件的校准方法、短路校准件、介质材料测量方法及装置

摘要

本发明公开了一种介质材料测量件的校准方法、短路校准件、介质材料测量方法及装置，本发明中利用至少三个轴向长度不同的短路校准件分别与介质材料测量件连接，通过测量电路得到数据计算得到介质材料测量件的网络参数，再通过介质材料测量件与试验样品连接，通过测得的数据计算及查询数据库等方式得到试验样品的介电常数，介质材料测量装置可根据试验样品的尺寸，调整其与试验样品的连接方式，介质材料测量件的校准方法可校准介质材料测量件的网络参数，使介质材料测量装置在测量试验样品的介电常数时得到更准确的数值，同时介质材料测量装置可在不对试验样品进行破坏处理的情况下进行试验，适用性好。

主权项

一种介质材料测量件的校准方法，其特征在于，包括以下步骤：将介质材料测量件的一端分别与至少三个短路校准件连接，至少三个短路校准件的轴向长度均不相同，将介质材料测量件的另一端接入测量电路，得到与每个短路校准件分别对应的测量电路输入端的反射系数S_mi(i＝1～N，N≥3)；将至少三个短路校准件分别对应的反射系数G_i(i＝1～N，N≥3)与至少三个所述短路校准件分别对应的测量电路输入端的反射系数S_mi(i＝1～N，N≥3)联合建立方程组，得到：S_mi＝S₁+S_cG_i/(1‑S₂G_i),(i＝1～N，N≥3)；将所述方程组中的任意三个方程组合求解，得到相应的网络参数S_1t、S_2t及S_ct(N≥3)，则所述方程组可得到组介质材料测量件的网络参数：$\left(\begin{array}{c}{S}_{11},S_{12},S_{c1}\\ S_{12},S_{22},S_{c2}\\ \mathrm{...}\\ S_{1T},S_{2T},S_{3T}\end{array}\right),(T=C_N^3,N\ge 3);$利用最小二乘法处理上述网络参数的矩阵，得到介质材料测量件的网络参数S₁、S₂及S_c。