| 发明名称 | 元件缺陷检测方法和系统 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种元件缺陷检测方法和系统，方法包括以下步骤：获取安装在电路板上的待测元件的原始图像，对所述原始图像进行边缘检测，获取所述待测元件的轮廓图像；提取所述轮廓图像的轮廓特征，将所述轮廓特征与预存的模板轮廓图像的模板轮廓特征进行比较，计算所述轮廓特征与所述模板轮廓特征之间的相似度；若所述相似度小于预设的相似度阈值，判定所述元件安装错误。 | ||
| 申请公布号 | CN106504231A | 申请公布日期 | 2017.03.15 |
| 申请号 | CN201610887937.4 | 申请日期 | 2016.10.11 |
| 申请人 | 广州视源电子科技股份有限公司 | 发明人 | 李红匣 |
| 分类号 | G06T7/00(2017.01)I | 主分类号 | G06T7/00(2017.01)I |
| 代理机构 | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人 | 陈金普 |
| 主权项 | 一种元件缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：获取安装在电路板上的待测元件的原始图像，对所述原始图像进行边缘检测，获取所述待测元件的轮廓图像；提取所述轮廓图像的轮廓特征，将所述轮廓特征与预存的模板轮廓图像的模板轮廓特征进行比较，计算所述轮廓特征与所述模板轮廓特征之间的相似度；若所述相似度小于预设的相似度阈值，判定所述元件安装错误。 | ||
| 地址 | 510530 广东省广州市广州黄埔区云埔四路6号 | ||