发明名称 光纤特性测定装置
摘要 本发明的一个方式的光纤特性测定装置具备:光源部,其将频率调制后的连续光输出;光分支部,其使连续光分支为泵浦光和参照光;导光部,其使泵浦光从被测定光纤的一端入射;第1分离部,其将通过被测定光纤内的泵浦光的布里渊散射而产生的后方散射光分离为作为某直线偏光的第1散射光、以及作为与该偏光正交的直线偏光的第2散射光;第2分离部,其将参照光分离为作为与第1散射光相同地偏光的第1参照光、以及作为与第2散射光相同地偏光的第2参照光;第1干涉部,其使第1散射光与第1参照光干涉而获得第1差拍分量;第2干涉部,其使第2散射光与第2参照光干涉而获得第2差拍分量;以及运算部,其基于第1差拍分量和第2差拍分量而对被测定光纤的特性进行测定。
申请公布号 CN106500970A 申请公布日期 2017.03.15
申请号 CN201610801600.7 申请日期 2016.09.05
申请人 横河电机株式会社 发明人 松浦聪;古川靖
分类号 G01M11/08(2006.01)I 主分类号 G01M11/08(2006.01)I
代理机构 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人 何立波;张天舒
主权项 一种光纤特性测定装置,其具备:光源部,其将频率调制后的连续光输出;光分支部,其使所述连续光分支为泵浦光和参照光;导光部,其使所述泵浦光从被测定光纤的一端入射;第1分离部,其将通过所述被测定光纤内的所述泵浦光的布里渊散射而产生的后方散射光分离为作为某直线偏光的第1散射光、以及作为与所述偏光正交的直线偏光的第2散射光;第2分离部,其将所述参照光分离为作为与所述第1散射光相同地偏光的第1参照光、以及作为与所述第2散射光相同地偏光的第2参照光;第1干涉部,其使所述第1散射光与所述第1参照光干涉而获得第1差拍分量;第2干涉部,其使所述第2散射光与所述第2参照光干涉而获得第2差拍分量;以及运算部,其基于所述第1差拍分量和所述第2差拍分量而对所述被测定光纤的特性进行测定。
地址 日本东京