发明名称 |
一种光谱测量方法及装置 |
摘要 |
本发明实施例公开了一种光谱测量方法及装置,其中该方法包括:对待测光谱信号经过阵列式滤波片后形成的观测光谱信号进行检测,获取检测数据,其中,待测光谱信号携带待测样品的光谱信息,所述阵列式滤波片上涂覆多种呈阵列式分布且光谱特性相异的物质;基于稀疏重建算法以及所述检测数据进行信号重建,获取重建结果。本发明实施例提高了光谱信号的测量精度和分辨率,操作方便,并且可使光谱测量装置微型化,降低了成本。 |
申请公布号 |
CN106501189A |
申请公布日期 |
2017.03.15 |
申请号 |
CN201611029525.3 |
申请日期 |
2016.11.14 |
申请人 |
清华-伯克利深圳学院筹备办公室 |
发明人 |
张林;张尚;周强;董宇涵 |
分类号 |
G01N21/25(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/25(2006.01)I |
代理机构 |
北京品源专利代理有限公司 11332 |
代理人 |
孟金喆;胡彬 |
主权项 |
一种光谱测量方法,其特征在于,包括:对待测光谱信号经过阵列式滤波片后形成的观测光谱信号进行检测,获取检测数据,其中,待测光谱信号携带待测样品的光谱信息,所述阵列式滤波片上涂覆多种呈阵列式分布且光谱特性相异的物质;基于稀疏重建算法以及所述检测数据进行信号重建,获取重建结果。 |
地址 |
518000 广东省深圳市南山区学苑大道1001号南山智园 |