一种测试并定位PMC‑RAID卡内存颗粒问题的方法

摘要

本发明公开了一种测试并定位PMC‑RAID卡内存颗粒问题的方法，一种测试并定位PMC‑RAID卡内存颗粒问题的方法，具体方法如下：S1、将测试工具用烧录器烧录到待测的PMC‑RAID卡上；S2、将待测的RAID卡安装到机器上，并连接串口工具到工作电脑上；S3、在工作电脑上使用测试脚本开始测试；S4、多次测试，并收集测试结果，确保问题可以复现；S5、查看测试结果，定位内存颗粒的问题点。本发明可以用于测试和定位PMC‑RAID卡内存颗粒问题，用于解决由于DDR报错而导致的RAID卡卡死以及EEC报错等问题，可以快速定位问题点，加速问题处理和解决的速度，提高公司的服务质量。

主权项

一种测试并定位PMC‑RAID卡内存颗粒问题的方法，其特征在于，具体方法如下：S1、将测试工具用烧录器烧录到待测的PMC‑RAID卡上；S2、将待测的RAID卡安装到机器上，并连接串口工具到工作电脑上；S3、在工作电脑上使用测试脚本开始测试；S4、多次测试，并收集测试结果，确保问题可以复现；S5、查看测试结果，定位内存颗粒的问题点。