发明名称 | 一种雷达恒虚警检测门限自适应设置方法 | ||
摘要 | 本发明涉及一种雷达恒虚警检测门限自适应设置方法,该方法可对不同区域设置不同的检测门限系数,从而在强杂波区域设置较高的检测门限,已达到降低虚警的目的,同时在弱杂波区域设置较低的检测门限,以提高该区域的检测概率。从雷达整个检测区域考虑,雷达的检测性能得到较大改善。 | ||
申请公布号 | CN106501788A | 申请公布日期 | 2017.03.15 |
申请号 | CN201611013400.1 | 申请日期 | 2016.11.18 |
申请人 | 西安电子工程研究所 | 发明人 | 蔡兴雨;朱思桥;任伦 |
分类号 | G01S7/41(2006.01)I | 主分类号 | G01S7/41(2006.01)I |
代理机构 | 西北工业大学专利中心 61204 | 代理人 | 刘新琼 |
主权项 | 一种雷达恒虚警检测门限自适应设置方法,其特征在于步骤如下:步骤1:将雷达探测区域划分为若干个子区域;步骤2:对子区域进行量化,量化时可采用计算子区域的水平投影面积或者空间体积;步骤3:计算各子区域内的点迹密度L,计算时使用子区域点数除以该子区域对应的量化值;步骤4:设置点迹密度门限上限M,设置点迹密度门限下限N,其中M≥N;所述点迹密度门限上限为根据雷达虚警概率计算出最大点迹数量,然后用该值除以整个检测区域的量化值;所述的点迹密度门限下限为降低雷达虚警概率,根据降低后的虚警概率计算出最大点迹数量,然后用该值除以整个检测区域的量化值;步骤5:将各子区域内的点迹密度L与点迹密度门限值进行比较:当L≥M,则增大该区域内恒虚警检测门限系数c,提高恒虚警检测门限;当L≤N,则减小该区域内恒虚警检测门限系数c;步骤6:设置最大恒虚警门限系数值c<sub>max</sub>,当恒虚警门限系数值大于等于c<sub>max</sub>时,不再增加;设置最小恒虚警门限系数值c<sub>min</sub>,当恒虚警门限系数值小于等于c<sub>min</sub>时,不再减小。 | ||
地址 | 710100 陕西省西安市长安区凤栖东路 |