| 发明名称 | 同轴集成电路测试插座 | ||
| 摘要 | 本公开涉及一种同轴集成电路测试插座。描述了用于在集成电路(IC)测试插座中集成全同轴信号引脚的实施例。该插座可以由导电金属(例如，铝)制成，并且可以钻有用于导电引脚的大量的孔以在印刷电路板(在其上安装插座)和被测试的IC之间接合。所述引脚可以包括接地引脚、低速信号(和/或电源)引脚以及用于高速信号(HSS)的同轴引脚组件。每个同轴引脚组件可以包括导电的HSS引脚和绝缘衬套，其中导电的HSS引脚具有置于弹簧负载的HSS筒体中的HSS探针。该HSS引脚被置于导电的插座主体的孔中的绝缘衬套环绕，从而形成了具有受控的阻抗特性的全同轴引脚。 | ||
| 申请公布号 | CN106483448A | 申请公布日期 | 2017.03.08 |
| 申请号 | CN201610791183.2 | 申请日期 | 2016.08.31 |
| 申请人 | 甲骨文国际公司 | 发明人 | R·莱斯尼克斯基 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人 | 李晓芳 |
| 主权项 | 一种集成电路(IC)测试插座，包括：包括多个孔的导电金属IC插座主体；以及被安装在所述多个孔的第一个孔中的同轴引脚组件，所述同轴引脚组件包括：导电的高速信号(HSS)引脚，其包括置于弹簧负载的HSS筒体中的HSS探针；以及绝缘衬套，其被置于所述第一个孔中并且环绕所述HSS引脚，以使得在所述HSS引脚的外表面和所述第一个孔的内表面之间形成受控的间距。 | ||
| 地址 | 美国加利福尼亚 | ||