发明名称 |
高密度SIP封装结构 |
摘要 |
本实用新型涉及一种高密度SIP封装结构,其中包括第一基岛、第二基岛和导热焊盘,所述的第一基岛和第二基岛相互平行,所述的导热焊盘设置于所述的第一基岛和第二基岛下方,所述的第一基岛上隔离排布有三颗MOS管和MCU芯片,所述的第二基岛上隔离排布有三颗MOS管,各个所述的MOS管与封装结构的外接头通过键合丝相连接。采用该种结构的高密度SIP封装结构,隔离排布多颗功率MOS管和主控芯片,充分利用封装体的纵向空间,大大提升集成电路的封装密度,提升封装结构的散热性能,可以有效应用于各种需要MCU主控芯片封装结构的场景,具有更广泛的应用范围。 |
申请公布号 |
CN206003765U |
申请公布日期 |
2017.03.08 |
申请号 |
CN201620280802.7 |
申请日期 |
2016.04.07 |
申请人 |
无锡矽瑞微电子股份有限公司 |
发明人 |
喻明凡 |
分类号 |
H01L23/495(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/495(2006.01)I |
代理机构 |
江苏英特东华律师事务所 32229 |
代理人 |
朱清韵 |
主权项 |
一种高密度SIP封装结构,其特征在于,所述的封装结构包括第一基岛、第二基岛和导热焊盘,所述的第一基岛和第二基岛相互平行,所述的导热焊盘设置于所述的第一基岛和第二基岛下方,所述的第一基岛上隔离排布有三颗MOS管和MCU芯片,所述的第二基岛上隔离排布有三颗MOS管,各个所述的MOS管与封装结构的外接头通过键合丝相连接。 |
地址 |
214072 江苏省无锡市滨湖区建筑西路599号1幢11层(无锡国家工业设计园) |