发明名称 |
高分辨率和高信噪比的双旋CT成像系统和成像方法 |
摘要 |
本发明提供一种高分辨率和高信噪比的双旋CT成像系统和成像方法,所述的成像系统包括:X射线或中子线光源:用于产生照射样品的光束;样品台:用于承载、固定和旋转样品;线像素探测器阵列:用于探测光强的背景和空间位置的变化,采集所述样品在所述光束照射下的投影数据;旋转装置:用于在垂直于样品转轴的方向,围绕样品同步旋转线光源和线像素探测器阵列。上述成像系统具有成像分辨率高、投影数据信号强的特点,满足医学检测、安全检查、工业检测等方面的应用需求。 |
申请公布号 |
CN104095646B |
申请公布日期 |
2017.03.08 |
申请号 |
CN201310116386.8 |
申请日期 |
2013.04.03 |
申请人 |
中国科学院高能物理研究所 |
发明人 |
朱佩平 |
分类号 |
A61B6/03(2006.01)I |
主分类号 |
A61B6/03(2006.01)I |
代理机构 |
北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 |
代理人 |
孟阿妮 |
主权项 |
一种高分辨率和高信噪比的双旋CT成像系统,其特征在于,包括:线光源,用于产生照射样品的X射线或中子光束,通过调整所述线光源的直径调整成像分辨率;样品台,用于承载、固定和旋转样品;线像素探测器阵列,平行于线光源,用于在垂直于线像素的方向上,探测光强的空间位置的变化,采集预定旋转角度范围内不同旋转角度对应的样品的投影数据;所述样品台和所述线像素探测器阵列还用于在平行于线光源的方向利用扩展的发光面积获得高信噪比;旋转装置,用于承载线光源和线像素探测器阵列,能够以线光源中心和线像素探测器阵列中心连线为轴,在垂直于样品转轴的方向,围绕样品同步旋转线光源和线像素探测器阵列。 |
地址 |
100049 北京市石景山区玉泉路19号(乙院) |