发明名称 |
一种定位优先级约束下零件装配成功的方法及装置 |
摘要 |
本发明提供了一种定位优先级约束下零件装配成功的方法及装置。所述方法,包括:获取产品数字化样机的装配信息;根据装配信息,获取零件内和零件间装配特征之间的定位关系;根据定位关系,获取装配特征在配合前相对于装配名义位置的变动参数;根据装配特征相对于装配名义位置的变动参数,获取间隙配合的约束条件;根据约束条件,获取零件装配成功率;将零件装配成功率与预设值进行比较,得出一比较结果;当比较结果表明装配成功率小于预设值时,提示调整零件的装配公差;根据调整后的装配公差再次获取零件装配成功率,直到所述零件装配成功率大于或等于预设值。采用上述方法调整的零件装配公差精度合理,保证了零件的准确安装。 |
申请公布号 |
CN104070355B |
申请公布日期 |
2017.03.08 |
申请号 |
CN201410313117.5 |
申请日期 |
2014.07.02 |
申请人 |
北京理工大学 |
发明人 |
丁晓宇;刘检华;蒋科;宁汝新;刘少丽;郭崇颖;史建成;刘海博 |
分类号 |
B23P21/00(2006.01)I |
主分类号 |
B23P21/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京银龙知识产权代理有限公司 11243 |
代理人 |
许静;黄灿 |
主权项 |
一种定位优先级约束下零件装配成功的方法,其特征在于,包括:获取产品数字化样机的装配信息;根据所述装配信息,获取零件内和零件间装配特征之间的定位关系;根据所述定位关系,获取装配特征在配合前相对于装配名义位置的变动参数;根据所述装配特征相对于装配名义位置的变动参数,获取间隙配合的约束条件;根据所述约束条件,获取零件装配成功率;将所述零件装配成功率与预设值进行比较,得出一比较结果;当所述比较结果表明所述装配成功率小于所述预设值时,提示调整零件的装配公差;根据调整后的所述装配公差再次获取零件装配成功率,直到所述零件装配成功率大于或等于预设值;其中,所述根据所述装配信息,获取零件内和零件间装配特征之间的定位关系的步骤包括:根据所述装配信息,获取已定位零件上的全部装配目标特征和被定位零件上的全部装配基准特征;根据所述全部装配目标特征和全部装配基准特征,建立零件间装配目标特征与装配基准特征之间的定位关系,并基于定位的先后顺序确定定位关系的优先级;根据所述定位关系的优先级,建立零件内装配目标特征相互之间以及装配基准特征相互之间的定位关系。 |
地址 |
100081 北京市海淀区中关村南大街5号 |