| 摘要 |
L'invention propose un procédé de caractérisation d'un matériau dans lequel est formée une surface, comprenant les étapes consistant à :
- projeter sur la surface un faisceau lumineux cohérent, pour générer sur ladite surface des tavelures résultant d'interférences des rayons lumineux diffusés par ladite surface,
- acquérir une image de ladite surface sur laquelle apparaissent les tavelures,
- traiter ladite image pour calculer au moins un critère de caractérisation du matériau, et
- à partir des critères, déterminer le matériau constituant la surface,
dans lequel l'étape de traitement de l'image comprend :
- le calcul d'une fonction d'autocorrélation de l'intensité lumineuse sur l'image et le calcul de la valeur d'au moins un critère établi à partir de ladite fonction, et
- le calcul de la valeur d'au moins un critère représentatif d'une distribution de déphasages des rayons lumineux diffusés par la surface. |
