| 发明名称 | 细胞力学特性的测量装置及测量方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及细胞测量的技术领域，公开了一种细胞力学特性的测量装置及测量方法，所述测量装置包括：基底层(2)；以及纳米线层(1)，位于所述基底层(2)上，包括纳米线阵列，该阵列内的纳米线(11)能够发出光信号，当待测细胞(3)置于所述纳米线层(1)上后，支撑所述待测细胞(3)的纳米线(11)发出的光信号的变化，以表征对应的细胞力学特性。本发明细胞力学特性的测量装置根据纳米线发出的光信号的变化情况，可实时测量细胞的力学特性。 | ||
| 申请公布号 | CN106483108A | 申请公布日期 | 2017.03.08 |
| 申请号 | CN201510542034.8 | 申请日期 | 2015.08.28 |
| 申请人 | 北京纳米能源与系统研究所 | 发明人 | 王中林;李舟;郑强;翟俊宜;彭铭曾;张亚岚 |
| 分类号 | G01N21/64(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/64(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人 | 罗攀;肖冰滨 |
| 主权项 | 一种细胞力学特性的测量装置，其特征在于，所述测量装置包括：基底层(2)；以及纳米线层(1)，位于所述基底层(2)上，包括纳米线阵列，该阵列内的纳米线能够发出光信号，当待测细胞(3)置于所述纳米线层(1)上后，支撑所述待测细胞(3)的纳米线(11)发出的光信号的变化，以表征对应的细胞力学特性。 | ||
| 地址 | 100083 北京市海淀区学院路30号天工大厦C座 | ||