发明名称 |
一种锗基纳米线沟道NMOS器件结构 |
摘要 |
本发明公布了一种锗基锗纳米线沟道N型MOSFET器件结构,其结构如下:一半绝缘锗基材料,一在半绝缘锗基材料上形成的N型掺杂的硅锗源漏底层、一在N型硅锗源漏底层上形成的N型掺杂的锗沟道材料层;一在锗沟道材料层上形成的N型掺杂的硅锗源漏顶层;一在锗纳米线材料层上形成的环栅介质层;一在氧化铝层上生长的环栅金属层;一在环栅金属层上沉积的栅金属电极;一在硅锗源漏顶层上形成的源漏金属电极。 |
申请公布号 |
CN106486542A |
申请公布日期 |
2017.03.08 |
申请号 |
CN201611071339.6 |
申请日期 |
2016.11.29 |
申请人 |
东莞市广信知识产权服务有限公司;东莞华南设计创新院 |
发明人 |
刘丽蓉;王勇;丁超 |
分类号 |
H01L29/775(2006.01)I;H01L29/165(2006.01)I;H01L29/78(2006.01)I;B82Y10/00(2011.01)I |
主分类号 |
H01L29/775(2006.01)I |
代理机构 |
广东莞信律师事务所 44332 |
代理人 |
曾秋梅 |
主权项 |
一种锗基纳米线沟道NMOSFET器件结构,包括如下:一半绝缘锗半导体材料衬底;一在半绝缘锗半导体材料上形成的N型掺杂的硅锗源漏底层;一在N型硅锗源漏底层上形成的不掺杂的锗沟道材料层;一在锗沟道材料层上形成的N型掺杂的硅锗源漏顶层;一在锗纳米线材料层上形成的环栅介质氧化铝层;一在氧化铝层上生长的环栅金属层;一在环栅金属层上沉积的栅金属电极;一在硅锗源漏顶层上形成的源漏金属电极。 |
地址 |
523000 广东省东莞市松山湖高新技术产业开发区新竹路4号新竹苑13栋6楼607室 |