发明名称 transistor com formação de fonte e dreno induzida por efeito de campo elétrico e seu método de fabricação
摘要 resumo transistor com formação de fonte e dreno induzida por efeito de campo elétrico e seu método de fabricação a presente invenção refere-se a transistor soi mosfet (silicon on insulator metal oxide semiconductor field effect transistor) e a seu método de fabricação a partir de uma lâmina soi. o método de fabricação do transistor compreende as seguintes etapas: a. ajuste da espessura da lâmina; b. seleção da região ativa da lâmina; c. corrosão completa da camada de óxido de silício superior; d. formação do óxido de porta; e. deposição do metal de porta; f. definição do eletrodo de porta; g. obtenção do eletrodo metálico nas regiões de fonte e dreno; h. deposição de metal na superfície inferior do substrato; i. sinterização do dispositivo; o transistor é composto por: eletrodo de porta (5), fonte (6), dreno (7), isolante de porta (4) e isolante enterrado (2), eletrodo de substrato (8), camada de silício (3), semicondutor (1). como no método de fabricação não há uma etapa para inserção de impurezas que determinam o tipo de portador de carga majoritário (elétrons ou lacunas) que formaria a fonte/dreno, existe a possibilidade de criar uma camada contendo um ou outro tipo de portador dependendo da tensão aplicada no substrato.
申请公布号 BR102015020974(A2) 申请公布日期 2017.03.07
申请号 BR20151020974 申请日期 2015.08.28
申请人 UNIVERSIDADE DE SÃO PAULO - USP 发明人 JOÃO ANTONIO MARTINO;RICARDO CARDOSO RANGEL
分类号 H01L21/02;H01L29/06 主分类号 H01L21/02
代理机构 代理人
主权项
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