发明名称 診断装置、診断システム、機器、及び、診断方法
摘要 【課題】動作品質が劣化した機器を高精度で診断する。【解決手段】診断装置であって、プロセッサと、メモリと、機器が出力するデータを受け付けるインターフェースと、を有し、前記機器が測定した物理量の結果を示す指標データ、及び、前記機器による動作の内容を示す指標データの少なくとも一つを示す動作指標を、前記インターフェースを介して受け付け、前記受け付けた動作指標を前記メモリに格納し、前記機器の動作を推定するために必要な前記指標データを示すテンプレートと、前記受け付けた動作指標とを照合することによって、前記機器の動作を推定し、前記推定した動作を診断するために必要な指標データを、前記受け付けた動作指標から抽出し、前記抽出した指標データに基づいて前記推定した動作の品質を診断する。【選択図】図16
申请公布号 JP2017045257(A) 申请公布日期 2017.03.02
申请号 JP20150166892 申请日期 2015.08.26
申请人 株式会社日立製作所 发明人 朱 韵成;沖田 英樹;花岡 誠之
分类号 G06F11/22;G05B23/02 主分类号 G06F11/22
代理机构 代理人
主权项
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