发明名称 半導体素子基板およびその製造方法
摘要 ウエハ割れに対する強度を損なわずに、アイソレーション領域形成の拡散時間を短縮する。互いに隣接する半導体装置間のスクライブラインSLに沿って不連続でかつ断続的にウエハ両面に複数の円形穴4a,4bがそれぞれ並んで配設され、複数の円形穴4a,4bの周りにそれぞれ素子分離用の一導電型(ここではP型)のアイソレーション拡散層5a,5bがウエハ両面から深さ方向部に達して隣接穴間および上下底面間で互いに少なくとも一部が重なるように形成されている。【選択図】図1
申请公布号 JPWO2015019540(A1) 申请公布日期 2017.03.02
申请号 JP20150530675 申请日期 2014.06.26
申请人 シャープ株式会社 发明人 岡本 朋昭;柳 雅彦;川上 知巳
分类号 H01L21/761;H01L21/301;H01L21/332;H01L29/74;H01L29/747 主分类号 H01L21/761
代理机构 代理人
主权项
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