发明名称 試料分析方法とその装置
摘要 昇温工程と並行して、熱分析工程、分子イオン化工程および分子構造分析工程を実施する。分子イオン化工程では、昇温に伴い試料Sから発生したガスに含まれる成分分子をイオン化し、分子構造分析工程で、この分子イオン化工程で得られた分子のイオンのうち、選択した任意のイオンを解裂させてその分子の構造因子に対応するフラグメントイオンを生成し、このフラグメントイオンに基づきその分子の構造を分析する。
申请公布号 JPWO2015022815(A1) 申请公布日期 2017.03.02
申请号 JP20150531743 申请日期 2014.06.27
申请人 株式会社リガク 发明人 有井 忠;松島 光一;大竹 智士
分类号 G01N27/62;G01N25/20;G01N27/64 主分类号 G01N27/62
代理机构 代理人
主权项
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