| 摘要 |
本発明により、選択反射層を含み、上記選択反射層は重合性液晶化合物を含む液晶組成物の硬化により得られるコレステリック液晶層を含み、上記選択反射層は特定の波長域で右円偏光または左円偏光のいずれか一方のセンスの円偏光を選択的に反射する層である応力表示部材、または複屈折性層および任意に円偏光分離層をさらに含む上記応力表示部材、ならびに上記いずれかの応力表示部材を用いて行われるひずみ測定方法が提供される。本発明の応力表示部材により、大面積の対象物に生じるひずみを安価に測定、可視化するとともに、測定精度が高いひずみ測定が可能である。 |
