发明名称 半導体装置
摘要 半導体装置を構成する基本構造を共通化して生産効率の向上を図るとともに、十分な冷却性能を確保可能な半導体装置を提供する。第1面(3a)と、第1面(3a)の反対側に位置する第2面(3b)と、第1面(3a)から第2面(3b)まで貫通する貫通孔(16)を有する支持板(3)と、半導体チップ(15)と、突出した金属ブロック(14)を有し、支持板(3)の第1面(3a)に固定され、金属ブロック(14)は貫通孔(16)を通じて第2面(3b)まで貫通している半導体ユニット(2)を備えている。
申请公布号 JPWO2015025447(A1) 申请公布日期 2017.03.02
申请号 JP20150532684 申请日期 2014.06.25
申请人 富士電機株式会社 发明人 飯塚 祐二
分类号 H01L23/36;H01L25/07;H01L25/18 主分类号 H01L23/36
代理机构 代理人
主权项
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