发明名称 |
炭化ケイ素半導体装置の製造方法 |
摘要 |
炭化ケイ素半導体の基板上に、ゲート絶縁膜として酸化膜あるいは窒化膜あるいは酸窒化膜の1層または2層以上を形成した後に熱処理を行う。ゲート絶縁膜を形成した後の熱処理は、O2を含まずH2とH2Oを含んだ雰囲気で所定時間行う。これにより、炭化ケイ素基板とゲート絶縁膜の界面を含む限られた領域に水素あるいは水酸基を偏析できる。水素あるいは水酸基が偏析している領域の幅は0.5nmから10nmであると良い。このようにすることで、界面準位密度を低減でき、高いチャネル移動度を実現できる。 |
申请公布号 |
JPWO2015005397(A1) |
申请公布日期 |
2017.03.02 |
申请号 |
JP20150526381 |
申请日期 |
2014.07.09 |
申请人 |
富士電機株式会社;国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
发明人 |
巻渕 陽一;堤 岳志;荒岡 幹;岡本 光央;福田 憲司 |
分类号 |
H01L21/336;H01L21/316;H01L21/324;H01L29/12;H01L29/78 |
主分类号 |
H01L21/336 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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