发明名称 |
半導体装置及び半導体装置の製造方法 |
摘要 |
【課題】親水性の絶縁膜を備えた半導体装置の製造工程の簡略化を実現することができる半導体装置及び半導体装置の製造方法を提供する。【解決手段】半導体装置10の製造方法の第1工程では、基板20上に第1層間膜22を形成する。第2工程では、第1層間膜22上に少なくとも一対の内部電極30を形成する。第3工程では、第1層間膜22及び内部電極30上に第2層間膜24を形成し、さらに第2層間膜24上に疎水性の第1絶縁膜26を形成する。第4工程では、第1絶縁膜26上に親水性の第2絶縁膜28を形成する。第5工程では、第2層間膜24、第1絶縁膜26、及び第2絶縁膜28を貫通して内部電極30に達するトレンチ36を形成する。第6〜第8工程では、トレンチ36の内部からトレンチ36の開口部周囲の第2絶縁膜28の表面にわたって少なくとも一対の外部電極33を形成する。【選択図】図2 |
申请公布号 |
JP2017045964(A) |
申请公布日期 |
2017.03.02 |
申请号 |
JP20150169741 |
申请日期 |
2015.08.28 |
申请人 |
ラピスセミコンダクタ株式会社;国立大学法人静岡大学 |
发明人 |
草野 健一郎;二川 雅登 |
分类号 |
H01L21/3205;G01N27/00;G01N27/04;G01N27/27;G01N27/414;G01N27/416;H01L21/768;H01L23/522 |
主分类号 |
H01L21/3205 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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