发明名称 撮像装置の製造方法
摘要 【課題】 隣接する画素間を分離するポテンシャルバリアの微細化に伴う光電変換部の感度の低下を抑制した撮像装置の製造方法を提供すること。【解決手段】 第1半導体領域となる領域が遮蔽され、第3半導体領域となる領域および第4半導体領域となる領域が開口された第1マスクを用いて第2導電型のイオン注入を行なう第1工程と、第3半導体領域となる領域および第4半導体領域となる領域の少なくとも一部が遮蔽された第2マスクを用いて、第1工程のイオン注入で、第3半導体領域となる領域および第4半導体領域となる領域に注入されて形成された不純物領域どうしが接続される領域に第1導電型のイオン注入を行なう第2工程と、を有する。【選択図】 図4
申请公布号 JP2017045801(A) 申请公布日期 2017.03.02
申请号 JP20150166052 申请日期 2015.08.25
申请人 キヤノン株式会社 发明人 伊藤 秀行
分类号 H01L27/146;H01L21/265;H01L27/14;H04N5/369 主分类号 H01L27/146
代理机构 代理人
主权项
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