发明名称 半導体装置
摘要 ダイオード領域における電圧変動を抑制することができる技術を提供する。半導体装置102は、ダイオードとして作動するときのエミッタ電極148と下部ボディ領域166との間の抵抗値が、アノード電極148と下部アノード領域168との間の抵抗値より小さい。また、エミッタ電極148と第2バリア領域116との間における正孔の量が、アノード電極148と第1バリア領域122との間における正孔の量より少ない。
申请公布号 JPWO2015029116(A1) 申请公布日期 2017.03.02
申请号 JP20150533804 申请日期 2013.08.26
申请人 トヨタ自動車株式会社;株式会社豊田中央研究所 发明人 斎藤 順;町田 悟;山下 侑佑
分类号 H01L29/739;H01L27/04;H01L29/78;H01L29/861;H01L29/868;H01L29/872 主分类号 H01L29/739
代理机构 代理人
主权项
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