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发明名称
異常検知評価システム
摘要
診断対象機器の異常検知を行うシステムにおいて、診断対象機器の異常の程度と異常検出率との関係を評価することを可能とする。診断対象機器の異常検知を行うシステムにおいて、診断対象機器の異常の程度毎に模擬した異常音を用いて、異常の程度と異常検出率との対応関係を示す劣化曲線を算出する。
申请公布号
JPWO2015011791(A1)
申请公布日期
2017.03.02
申请号
JP20150528053
申请日期
2013.07.24
申请人
株式会社日立製作所
发明人
峰村 今朝明;湯田 晋也;佐伯 崇
分类号
G01M99/00
主分类号
G01M99/00
代理机构
代理人
主权项
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