| 摘要 |
実装検査装置４０は、欠品検査の結果に基づいて、実装された部品Ｐの欠品が検出された基板に対して、基板上の異物検査を行う。また、実装検査装置４０は、欠品検査により欠品が検出されなかった基板に対しては異物検査を行わない。実装検査装置４０は、基板のうち欠品が検出された位置に関する情報である欠品位置情報を取得し、基板のうち欠品位置情報で特定される欠品位置の周辺に対して優先的に異物検査を行う。実装検査装置４０は、検出された欠品に係る部品を実装する際の基板上の搬送経路に関する情報である欠品搬送情報を取得し、基板のうち欠品搬送情報で特定される領域に対して優先的に異物検査を行う。 |
