发明名称 |
ナノ粒子のスクリーニング方法及びスクリーニングシステム |
摘要 |
【課題】特に、ナノ粒子の表面改質条件を効率的に探索でき、表面改質に必要な時間と労力とサンプル量を従来よりも低減した、ナノ粒子のスクリーニング方法及びスクリーニングシステムを提供する。【解決手段】本発明のナノ粒子のスクリーニング方法は、収容容器に設けられた複数の収容部の夫々に、ナノ粒子懸濁液を小分けするステップと、ナノ粒子の表面改質処理を、前記収容部ごとに別条件にて行うステップと、各収容部内に分散媒を加えて、前記ナノ粒子と前記分散媒とを混合した評価サンプルを生成するステップと、各収容部の前記評価サンプルに対して、光学分析により評価を行うステップと、を有することを特徴とする。【選択図】図1 |
申请公布号 |
JP2017044672(A) |
申请公布日期 |
2017.03.02 |
申请号 |
JP20150169736 |
申请日期 |
2015.08.28 |
申请人 |
国立研究開発法人産業技術総合研究所;NSマテリアルズ株式会社 |
发明人 |
中村 浩之;田中 雅典;金海 榮一 |
分类号 |
G01N21/64;B82Y20/00;B82Y35/00;G01N21/27 |
主分类号 |
G01N21/64 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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