| 摘要 |
【課題】半導体装置の異常リーク電流故障を検出するために電源電圧の供給経路へ抵抗を挿入しなければならないので、通常動作時において、挿入された抵抗によって不要な電圧降下を招くという問題がある。【解決手段】異常監視部７０６は、第１の電源スイッチ７０３がオフのときの第１の機能モジュール７０１と第１の電源スイッチ７０３との間の第１のノードＮＤＡの電圧の変化と、第２の電源スイッチ７０４がオフのときの第２の機能モジュール７０２と第２の電源スイッチ７０４との間の第２のノードＮＤＢの電圧の変化の比較に基づいて、第１の機能モジュール７０１または第２の機能モジュール７０２の異常リーク電流の発生の有無を検出する。【選択図】図１ |
