发明名称 半導体装置及びその作製方法
摘要 【課題】信頼性の高い半導体装置、及び該半導体装置の作製方法を提供する。【解決手段】酸化物半導体膜上にチャネル保護膜として機能する絶縁層が設けられたボトムゲート構造のトランジスタを有する半導体装置において、酸化物半導体膜上に接して設けられる絶縁層、及び/または、ソース電極層及びドレイン電極層の形成後に不純物除去処理を行うことで、エッチングガスに含まれる元素が、酸化物半導体膜表面に不純物として残存することを防止する。酸化物半導体膜の表面における不純物濃度は、5×1018atoms/cm3以下、好ましくは1×1018atoms/cm3以下とする。【選択図】図1
申请公布号 JP2017046002(A) 申请公布日期 2017.03.02
申请号 JP20160222413 申请日期 2016.11.15
申请人 株式会社半導体エネルギー研究所 发明人 栃林 克明;日向野 聡;山崎 舜平
分类号 H01L29/786;H01L21/336;H01L27/146;H01L51/50;H05B33/14 主分类号 H01L29/786
代理机构 代理人
主权项
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