发明名称 导热片和半导体装置
摘要 本发明提供一种导热片,其包含热固性树脂和分散在所述热固性树脂中的填充材料,其特征在于,通过以下的步骤(a)~(d)测定的所述导热片的固化体的高温保管稳定率Q<sub>1</sub>为0.7以上1.0以下:(a)测定所述固化体的厚度方向上的导热率,将所得到的测定值设为λ<sub>0</sub>,(b)将所述固化体在200℃的环境下保管24小时,(c)测定按步骤(b)进行保管后的所述固化体的厚度方向上的导热率,将所得到的测定值设为λ<sub>1</sub>,(d)计算出Q<sub>1</sub>=λ<sub>1</sub>/λ<sub>0</sub>。
申请公布号 CN106471618A 申请公布日期 2017.03.01
申请号 CN201580036667.X 申请日期 2015.07.02
申请人 住友电木株式会社 发明人 望月俊佑;北川和哉;白土洋次;长桥启太;津田美香;平泽宪也;黑川素美
分类号 H01L23/373(2006.01)I;C08K7/00(2006.01)I;C08L101/00(2006.01)I;H01L23/36(2006.01)I;H05K7/20(2006.01)I 主分类号 H01L23/373(2006.01)I
代理机构 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人 龙淳;池兵
主权项 一种导热片,其包含热固性树脂和分散在所述热固性树脂中的填充材料,其特征在于:通过以下的步骤(a)~(d)测定的所述导热片的固化体的高温保管稳定率Q<sub>1</sub>为0.7以上1.0以下:(a)测定所述固化体的厚度方向上的导热率,将所得到的测定值设为λ<sub>0</sub>,(b)将所述固化体在200℃的环境下保管24小时,(c)测定按步骤(b)进行保管后的所述固化体的厚度方向上的导热率,将所得到的测定值设为λ<sub>1</sub>,(d)计算出Q<sub>1</sub>=λ<sub>1</sub>/λ<sub>0</sub>。
地址 日本东京都