发明名称 |
一种温度校准的方法及装置 |
摘要 |
本发明公开了一种温度校准的方法及装置,应用于射频仪表中,通过预先设置多个不同的待测温度节点,将射频仪表的射频模块PCB电路板调节至待测温度节点并进行测试,当在待测温度节点处对待校准的射频仪表完成测试后,根据待测温度节点对应的测试结果确定出标准温度功率补偿线(温补线)数据,将多个待测温度节点分别对应的标准温补线数据存储于射频仪表的存储器中,用于对射频信号功率测量结果误差进行补偿。提高了针对不同仪表获取的标准温补线数据的准确性与适应性,减少了获取到的标准温补线数据的误差。 |
申请公布号 |
CN106468601A |
申请公布日期 |
2017.03.01 |
申请号 |
CN201610825388.8 |
申请日期 |
2016.09.14 |
申请人 |
上海为准电子科技有限公司 |
发明人 |
徐逢春;张力 |
分类号 |
G01K15/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01K15/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京鑫媛睿博知识产权代理有限公司 11297 |
代理人 |
龚家骅 |
主权项 |
一种温度校准的方法,应用于射频仪表中,预先设置多个不同的待测温度节点,其特征在于,该方法还包括:将所述射频仪表的射频模块PCB板调节至所述待测温度节点,并对所述射频仪表进行测试;当在所述待测温度节点处对所述射频仪表完成测试后,根据所述待测温度节点对应的测试结果确定所述待测温度节点对应的标准温补线数据;将多个待测温度节点分别对应的标准温补线数据预存于所述射频仪表的存储器中。 |
地址 |
201600 上海市松江区新飞路1500弄26号三楼 |