间歇表面测量

摘要

本发明公开了一种确定装在罐中的产品的料位的方法以及料位计系统，所述方法包括以下步骤：a)向产品的表面的目标区域发射电磁探测信号；b)接收作为电磁探测信号在表面处的反射的反射探测信号；c)确定表示反射探测信号的幅度的参数值；如果参数值表示大于预定阈值的幅度，则：d)向表面的目标区域发射电磁测量信号；e)接收作为电磁测量信号在表面处的反射的返回信号；以及f)基于电磁测量信号与返回信号之间的时间关系，确定料位。

主权项

一种确定装在罐(24)中的产品(22)的料位的方法，所述方法包括以下步骤：a)向所述产品的表面(38)的目标区域(36)发射电磁探测信号；b)接收作为所述电磁探测信号在所述表面处的反射的反射探测信号；c)确定表示所述反射探测信号的幅度的参数值；如果所述参数值表示大于预定阈值的幅度，则：d)向所述表面的所述目标区域(36)发射电磁测量信号；e)接收作为所述电磁测量信号在所述表面处的反射的返回信号；以及f)基于所述电磁测量信号与所述返回信号之间的时间关系确定所述料位，其中，如果在步骤c)中确定的所述参数值表示小于或等于所述预定阈值的幅度，则所述方法返回到步骤a)，其中，所述电磁探测信号比所述电磁测量信号短。