发明名称 半导体装置及半导体装置的制造方法
摘要 本发明涉及一种半导体装置及半导体装置的制造方法。根据实施方式,半导体装置包括:衬底;积层体,设置在所述衬底上;及积层膜,具有半导体膜及电荷储存膜。所述积层体具有:多个电极膜,隔着空隙而积层;第1绝缘膜,设置在所述多个电极膜中的最下层的电极膜与所述衬底之间,作为金属氧化膜、碳化硅膜、或碳氮化硅膜;及第2绝缘膜,设置在所述多个电极膜中的最上层的电极膜之上,作为金属氧化膜、碳化硅膜、或碳氮化硅膜。所述半导体膜在所述积层体内沿所述积层体的积层方向延伸,所述电荷储存膜设置在所述半导体膜与所述电极膜之间。
申请公布号 CN106469735A 申请公布日期 2017.03.01
申请号 CN201610576858.1 申请日期 2016.07.20
申请人 株式会社东芝 发明人 荒井伸也
分类号 H01L27/11578(2017.01)I 主分类号 H01L27/11578(2017.01)I
代理机构 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人 张世俊
主权项 一种半导体装置,其特征在于包括:衬底;积层体,设置在所述衬底上,且具有:多个电极膜,隔着空隙而积层;第1绝缘膜,设置在所述多个电极膜中的最下层的电极膜与所述衬底之间,且为金属氧化膜、碳化硅膜、或碳氮化硅膜;及第2绝缘膜,设置在所述多个电极膜中的最上层的电极膜之上,且为金属氧化膜、碳化硅膜、或碳氮化硅膜;以及积层膜,具有:半导体膜,在所述积层体内沿所述积层体的积层方向延伸;及电荷储存膜,设置在所述半导体膜与所述电极膜之间。
地址 日本东京