| 摘要 |
본 발명은 전지셀에 대한 충격량을 조절하여 두께를 측정하는 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 양극, 음극, 및 양극과 음극 사이에 개재되는 분리막을 포함하는 전극조립체가 전지케이스의 수납부에 장착되어 있는 전지셀의 두께를 측정하는 장치로서, 전지셀이 상면에 탑재되는 베이스 플레이트; 베이스 플레이트에 탑재되어 있는 전지셀의 상부 위치에서 전지셀을 향해 자유 낙하하는 평판기; 평판기를 전지셀의 상부에 위치하도록 가로 바를 포함하고 있으며 일측 단부들이 베이스 플레이트의 측부들에 고정되어 있는 지지부; 평판기의 높이를 조절하는 높이 조절부; 및 평판기가 자유 낙하하여 전지셀에 접촉할 때 전지셀의 두께를 측정하는 센서; 를 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 전지셀 두께 측정장치를 제공한다. |
