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반도체 칩, 테스트 시스템 및 반도체 칩의 테스트 방법이 개시된다. 일 실시예에 따른 반도체 칩(semiconductor chip)은 테스트 요청에 응답하여, 테스트 펄스(test pulse)를 생성하는 펄스 생성기(pulse generator); 직렬로 연결되어, 각각, 상기 테스트 펄스를 순차적으로 전달하는 다수의 로직(logic)을 포함하는 로직 체인(logic chain); 및 상기 로직 체인의 다수의 로직 각각의 출력의 레벨을 검출하여, ISI(Inter Symbol Interference)의 정도를 나타내는 검출 결과를 출력하는 검출기를 포함한다. |
