发明名称 Phase Shift Blankmask and Photomask
摘要 본 발명은 투명 기판 상에 위상반전막이 구비되며, 상기 위상반전막은 불소(F)을 포함하는 실리콘(Si) 화합물로 이루어진 위상반전 블랭크 마스크를 제공한다. 본 발명에 따른 위상반전 블랭크 마스크는 10% 이상의 투과율 가짐에 따라 32㎚급 이하, 특히, 14㎚급 이하, 바람직하게, 10㎚급 이하의 미세 패턴 구현이 가능하다.
申请公布号 KR20170021192(A) 申请公布日期 2017.02.27
申请号 KR20160050084 申请日期 2016.04.25
申请人 주식회사 에스앤에스텍 发明人 남기수;신철;이종화;양철규;최민기;김창준;김지현
分类号 G03F1/26;G03F1/00;G03F1/48;G03F7/004;G03F7/075 主分类号 G03F1/26
代理机构 代理人
主权项
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