发明名称 磁気ヘッド外観検査装置及び磁気ヘッド外観検査方法
摘要 【課題】記録ヘッドの検査に用いる磁気力顕微鏡(MFM)の設備を利用し、読み出しヘッドの磁気検出素子の外観を検査する。【解決手段】先端部分に磁性探針71が形成されたカンチレバー7を、磁気検出素子5が搭載された磁気ヘッド(スライダ2)の表面に対してスキャン移動させる。カンチレバー7の磁性探針71が発生する磁界による、磁気検出素子5の出力信号の変化を、検出装置91,92,93により検出して検出信号を出力する。検出装置91,92,93の検出信号を、画像処理装置94により処理して、磁気検出素子5の画像を示す画像信号を作成し、画像処理装置94により作成した画像信号から、磁気検出素子5の形状を測定する。【選択図】図3
申请公布号 JP2017041290(A) 申请公布日期 2017.02.23
申请号 JP20150163670 申请日期 2015.08.21
申请人 株式会社日立ハイテクファインシステムズ 发明人 杉山 敏教;松下 典充;渡辺 正浩;張 開鋒
分类号 G11B5/455 主分类号 G11B5/455
代理机构 代理人
主权项
地址