| 摘要 |
【課題】電子部品中に不良製品が混入しているかどうかを高速に判定するための電子部品試験装置、電子部品試験方法を提供することを課題とする。【解決手段】試験対象となる複数の電子部品である試験対象電子部品を配列載置し、配列された試験対象電子部品を電気的に接続して構成される第一回路に所定のインパルス波形の電流又は電圧である第一インパルス波形を供給し、第一インパルス波形の供給によって第一回路に流れる電流又は電圧波形である第一検出波形を検出し、第一検出部にて検出されるべき電流又は電圧波形である第一リファレンス波形と、第一検出波形とを比較して、試験対象電子部品中に不良製品が混入しているか判定する電子部品試験装置などを提供する。【選択図】図１ |
