发明名称 |
Gehäusestrukturen und Verfahren ihrer Herstellung |
摘要 |
Eine Ausführungsform besteht aus einem Verfahren, das das Ausbilden eines ersten Gehäuses umfasst. Das Ausbilden des ersten Gehäuses umfasst das Ausbilden einer Silizium-Durchkontaktierung angrenzend an einen ersten Die, zumindest seitliches Kapseln des ersten Dies und der Silizium-Durchkontaktierung mit einem Kapselungsmittel und Ausbilden einer ersten Umverteilungsstruktur über dem ersten Die, der Silizium-Durchkontaktierung und dem Kapselungsmittel. Das Ausbilden der ersten Umverteilungsstruktur umfasst das Ausbilden einer ersten Durchkontaktierung auf der Silizium-Durchkontaktierung und das Ausbilden einer ersten Metallisierungsstruktur auf der ersten Durchkontaktierung und mindestens einer Seitenwand der ersten Metallisierungsstruktur direkt über der Silizium-Durchkontaktierung. |
申请公布号 |
DE102016100021(A1) |
申请公布日期 |
2017.02.23 |
申请号 |
DE201610100021 |
申请日期 |
2016.01.03 |
申请人 |
Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. |
发明人 |
Su, An-Jhih;Yu, Chen-Hua |
分类号 |
H01L21/60;H01L23/50;H01L25/065 |
主分类号 |
H01L21/60 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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