发明名称 Gehäusestrukturen und Verfahren ihrer Herstellung
摘要 Eine Ausführungsform besteht aus einem Verfahren, das das Ausbilden eines ersten Gehäuses umfasst. Das Ausbilden des ersten Gehäuses umfasst das Ausbilden einer Silizium-Durchkontaktierung angrenzend an einen ersten Die, zumindest seitliches Kapseln des ersten Dies und der Silizium-Durchkontaktierung mit einem Kapselungsmittel und Ausbilden einer ersten Umverteilungsstruktur über dem ersten Die, der Silizium-Durchkontaktierung und dem Kapselungsmittel. Das Ausbilden der ersten Umverteilungsstruktur umfasst das Ausbilden einer ersten Durchkontaktierung auf der Silizium-Durchkontaktierung und das Ausbilden einer ersten Metallisierungsstruktur auf der ersten Durchkontaktierung und mindestens einer Seitenwand der ersten Metallisierungsstruktur direkt über der Silizium-Durchkontaktierung.
申请公布号 DE102016100021(A1) 申请公布日期 2017.02.23
申请号 DE201610100021 申请日期 2016.01.03
申请人 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. 发明人 Su, An-Jhih;Yu, Chen-Hua
分类号 H01L21/60;H01L23/50;H01L25/065 主分类号 H01L21/60
代理机构 代理人
主权项
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