发明名称 絶縁ゲート型半導体素子の制御装置およびそれを用いた電力変換装置
摘要 本発明による絶縁ゲート型半導体素子の制御装置は、第1絶縁ゲートと第2絶縁ゲートを備える絶縁ゲート型半導体素子を、第1絶縁ゲートおよび第2絶縁ゲートにそれぞれ与えられる第1制御電圧および第2制御電圧によって駆動するものであり、絶縁ゲート型半導体素子に流れる電流に関する信号を入力する第1ノイズフィルタと、第1ノイズフィルタの出力信号と第1基準信号を比較し、第1比較結果を出力する第1比較器と、第1比較結果により、絶縁ゲート型半導体素子に過電流が流れていると判定されたら、第2制御電圧を低下させる第2制御電圧出力回路と、第2制御電圧が低下した後、第1制御電圧を低下させる第1制御電圧出力回路とを備える。
申请公布号 JPWO2014181450(A1) 申请公布日期 2017.02.23
申请号 JP20150515718 申请日期 2013.05.10
申请人 株式会社日立製作所 发明人 橋本 貴之;森 睦宏
分类号 H03K17/08;H02M1/08;H02M1/32;H02M7/48 主分类号 H03K17/08
代理机构 代理人
主权项
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