发明名称 半導体装置
摘要 本開示の半導体装置は、第1の窒化物半導体層が第2の窒化物半導体層との界面近傍に2次元電子ガスチャネルを有する。平面視において、第1の電極と第2の電極との間に電極部が間隔をおいて配置され、第2の電極と電極部との間隔が第1の電極と電極部との間隔よりも短い。電極部と第2の窒化物半導体層との接合面において、電極部から第2の窒化物半導体層へ順方向の整流作用を示すエネルギー障壁を有し、第2の窒化物半導体層のバンドギャップが第1の窒化物半導体層のバンドギャップよりも大きい。電極部は第2の電極と実質的に同電位であり、第1の電極と第2の電極との間に、第1の電極が正となる最大動作電圧が印加されている場合に、電極部下方の2次元電子ガスチャネルが導通状態となっている。
申请公布号 JPWO2014174810(A1) 申请公布日期 2017.02.23
申请号 JP20150513554 申请日期 2014.04.17
申请人 パナソニックIPマネジメント株式会社 发明人 金子 佐一郎;山際 優人;井腰 文智;黒田 正行;柳原 学;田中 健一郎;福島 哲之
分类号 H01L21/338;H01L21/28;H01L29/41;H01L29/47;H01L29/778;H01L29/812;H01L29/872 主分类号 H01L21/338
代理机构 代理人
主权项
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