发明名称 |
半導体装置 |
摘要 |
本開示の半導体装置は、第1の窒化物半導体層が第2の窒化物半導体層との界面近傍に2次元電子ガスチャネルを有する。平面視において、第1の電極と第2の電極との間に電極部が間隔をおいて配置され、第2の電極と電極部との間隔が第1の電極と電極部との間隔よりも短い。電極部と第2の窒化物半導体層との接合面において、電極部から第2の窒化物半導体層へ順方向の整流作用を示すエネルギー障壁を有し、第2の窒化物半導体層のバンドギャップが第1の窒化物半導体層のバンドギャップよりも大きい。電極部は第2の電極と実質的に同電位であり、第1の電極と第2の電極との間に、第1の電極が正となる最大動作電圧が印加されている場合に、電極部下方の2次元電子ガスチャネルが導通状態となっている。 |
申请公布号 |
JPWO2014174810(A1) |
申请公布日期 |
2017.02.23 |
申请号 |
JP20150513554 |
申请日期 |
2014.04.17 |
申请人 |
パナソニックIPマネジメント株式会社 |
发明人 |
金子 佐一郎;山際 優人;井腰 文智;黒田 正行;柳原 学;田中 健一郎;福島 哲之 |
分类号 |
H01L21/338;H01L21/28;H01L29/41;H01L29/47;H01L29/778;H01L29/812;H01L29/872 |
主分类号 |
H01L21/338 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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